微觀譜圖(tu)分(fen)析 ? 組成元(yuan)素(su)分(fen)析
定(ding)性定(ding)量分析(xi) ? 組成成分分析(xi)
性能質量 ? 含量成(cheng)分
爆炸極限(xian) ? 組(zu)分(fen)分(fen)析
理化(hua)指(zhi)標 ? 衛生指(zhi)標 ? 微生物(wu)指(zhi)標
理化指(zhi)標 ? 微生(sheng)物(wu)指(zhi)標 ? 儀器分(fen)析
安定性檢(jian)測 ? 理化指標檢(jian)測
產品研發 ? 產品改善(shan)
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發布時間:2024-01-08
關鍵(jian)詞:GB/T 15246-2022 微(wei)束(shu)分析(xi) 硫化物礦物的電子探針定量分析(xi)方法
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來源(yuan):北京中科(ke)光析(xi)科(ke)學技術研究所
因業(ye)務調整,部分個(ge)人測試(shi)暫不接受委托,望(wang)見(jian)諒(liang)。
本標準規定了用電子探針進(jin)行(xing)硫化物礦物定量分(fen)析的標準方法。
本(ben)標準適用于在電子束轟擊(ji)下穩定(ding)的(de)硫化(hua)物(wu)(wu)以(yi)及砷化(hua)物(wu)(wu)、銻化(hua)物(wu)(wu)、鉍(bi)化(hua)物(wu)(wu)、碲(di)化(hua)物(wu)(wu)、硒化(hua)物(wu)(wu)的(de)電子探(tan)針定(ding)量分析。
本標準適(shi)用(yong)于以X射線波長分(fen)(fen)光(guang)譜儀進(jin)行的定(ding)量分(fen)(fen)析;其主(zhu)要內(nei)容和基本原(yuan)則也適(shi)用(yong)于以X射線能譜儀進(jin)行的定(ding)量分(fen)(fen)析。
下(xia)列文件(jian)中的(de)條款(kuan)通(tong)過(guo)本標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)的(de)引用(yong)而(er)成為本標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)的(de)條款(kuan)。凡是(shi)注日(ri)期(qi)(qi)的(de)引用(yong)文件(jian),其隨后所有的(de)修改單(不(bu)包括(kuo)勘誤(wu)的(de)內容)或修訂版均不(bu)適(shi)用(yong)于本標(biao)(biao)準(zhun)(zhun),然(ran)而(er),鼓(gu)勵根據(ju)本標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)達(da)成協議的(de)各方研究(jiu)是(shi)否可使用(yong)這些(xie)文件(jian)的(de)最(zui)新版本。凡是(shi)不(bu)注日(ri)期(qi)(qi)的(de)引用(yong)文件(jian),其最(zui)新版本適(shi)用(yong)于本標(biao)(biao)準(zhun)(zhun)。
GB/T15074電子探針定量分析(xi)方法通則
3.1
硫(liu)化物礦物sulfide minerals由硫(liu)構成陰離子團的金(jin)屬礦物。
3.2
光(guang)片polished section將(jiang)巖(yan)石或礦石樣(yang)品切割成一定大小,并將(jiang)待觀測(ce)面磨平、拋光(guang)的試樣(yang)。
3.3
光(guang)薄(bo)片polished thin section將巖石(shi)或礦石(shi)樣品切(qie)割成一定大小,減(jian)薄(bo)至能透過光(guang)線,并(bing)雙(shuang)面磨平、拋光(guang)的試樣。
3.4
砂光片slade grains將顆粒樣品鑲(xiang)嵌在(zai)(zai)導電(dian)或(huo)非導電(dian)的(de)鑲(xiang)嵌物中或(huo)制(zhi)在(zai)(zai)玻璃薄片上并進行磨平拋光的(de)試樣。